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日本电测膜厚计RST-231

更新时间:2019-04-28

简要描述:

可在短时间内(0.7秒)测量绝缘体上的金属膜,具有高精度
在0.7秒内测量绝缘体上的金属薄膜 -
读取屏幕 - 易于校准和测量 - 可以立即查看图形,轮廓等 -
异常值检测功能 日本电测膜厚计RST-231

型号:厂商性质:经销商浏览量:99
产地类别进口

电阻膜厚度计RST-231

电阻膜厚度计RST-231

易于操作
,可在短时间内(0.7秒)测量绝缘体上的金属膜,具有高精度

- 在0.7秒内测量绝缘体上的金属薄膜 - 
使用PC 
轻松
读取屏幕 - 易于校准和测量 - 可以立即查看图形,轮廓等 - 
异常值检测功能

在数字目录中查看

电阻膜厚度计RST-231的特点

在0.7秒内测量绝缘体上的金属膜

在短时间(0.7秒)内高精度地测量绝缘体上的金属膜(例如铜箔和印刷电路板的电镀)。

易于查看的屏幕配置

屏幕宽大,明亮,使用PC可轻松查看。

易于校准和测量

易于校准和测量。可以选择两个测量范围(2至24μm,10至120μm)。

可以立即看到各种数字

经过统计处理后,可以立即看到直方图,轮廓和xR图表。

异常值检测功能

如果设定膜厚度的上限和下限,则通知异常值。

我们每次探测都应对交流

如果探针*损坏,可以更换每个*,并且可以以低成本进行修复。

易于统计处理

可以为每个通道保存测量数据,并且可以稍后在测量数据上设置统计项目以进行统计处理。

多可注册40个频道

多可注册40个通道,因此您可以根据用户名和部件号​​分别注册来管理通道。

我们每次探测都应对交流

使用4-探针探针(开尔文型),可以高精度地测量双面和多层基板,而不受背面和内层的影响。

直方图

直方图

xR图表

xR图表

统计显示

统计显示

 探头间距探针提示
KD-1101毫米0.1R※标准品
KD-1051毫米0.05R
KD-1201毫米0.2R
KD-2102毫米0.1R
KD-2202毫米0.2R

测量原理

测量原理 探头有四个直立的金属销(探头)。
使四个探针与待测量的绝缘体上的金属箔或金属电镀表面接触。向外部两个探头施加恒定电流(I)并测量电压(V)。与探针接触的金属箔或金属镀层的厚度(T)可以在某些条件下通过下式计算。
T = K×I÷V 
这里,K是常数
,因此如果测量两个内部探头之间的电压,可以测量金属箔或金属镀层的厚度。

电阻膜厚度计RST-231规格·4探头探头规格

型号(车身)RST-231型
测量原理4探针电阻型
测量范围2至24μm,10至120μm
频道数量40个频道
数据容量100,000个数据
显示通过PC监视器屏幕
统计处理值,小值,平均值,标准偏差,直方图,上限/下限设置
电源AC 100至240 V 50/60 Hz,10 VA(主机)
280(宽)x 230(长)x 88(高)(正文)
附件4探针探针KD-110 
标准板TCU-145

注意:规格如有更改,恕不另行通知。

日本电测膜厚计RST-231 日本电测膜厚计RST-231

 

TQ-50NG16

TQ-100NG16

TQ-150NG16

TQ-200NG16

TQ-300NG16

TQ-500NG16

TQ-1KNG16

TQ-1.5KNG16

TQ-2KNG16

TQ-3KNG16

TQ-4KNG16

TQ-5KNG16

TQ-7KNG16

TQ-10KNG16

TQR-200MNA32

TQR-500MNA32

TQR-1NA32

TQR-2NA32

TQR-3NA32

TQR-5NA32

TQT-2NB57M2G4

TQT-5NB57M2G4

TQT-10NB57M2G4

TQT-20NB57M2G4

TQT-30NB57M2G4

TQT-50NB57M2G4

TQT-70NB57M2G4

LC-10KNE450

LC-20KNE450

LT-5KNG56

LT-10KNG56

LT-20KN

PG-200MPG7

PG-300MPG7

PG-400MPG7

 

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