更新时间:2024-08-03
可在短时间内(0.7秒)测量绝缘体上的金属膜,具有高精度在0.7秒内测量绝缘体上的金属薄膜 - 读取屏幕 - 易于校准和测量 - 可以立即查看图形,轮廓等 - 异常值检测功能 日本电测膜厚计RST-231
产地类别 | 进口 |
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易于操作
,可在短时间内(0.7秒)测量绝缘体上的金属膜,具有高精度
- 在0.7秒内测量绝缘体上的金属薄膜 -
使用PC
轻松
读取屏幕 - 易于校准和测量 - 可以立即查看图形,轮廓等 -
异常值检测功能
在0.7秒内测量绝缘体上的金属膜
在短时间(0.7秒)内高精度地测量绝缘体上的金属膜(例如铜箔和印刷电路板的电镀)。
易于查看的屏幕配置
屏幕宽大,明亮,使用PC可轻松查看。
易于校准和测量
易于校准和测量。可以选择两个测量范围(2至24μm,10至120μm)。
可以立即看到各种数字
经过统计处理后,可以立即看到直方图,轮廓和xR图表。
异常值检测功能
如果设定膜厚度的上限和下限,则通知异常值。
我们每次探测都应对交流
如果探针*损坏,可以更换每个*,并且可以以低成本进行修复。
易于统计处理
可以为每个通道保存测量数据,并且可以稍后在测量数据上设置统计项目以进行统计处理。
多可注册40个频道
多可注册40个通道,因此您可以根据用户名和部件号分别注册来管理通道。
我们每次探测都应对交流
使用4-探针探针(开尔文型),可以高精度地测量双面和多层基板,而不受背面和内层的影响。
直方图
xR图表
统计显示
探头间距 | 探针提示 | |
KD-110 | 1毫米 | 0.1R※标准品 |
KD-105 | 1毫米 | 0.05R |
KD-120 | 1毫米 | 0.2R |
KD-210 | 2毫米 | 0.1R |
KD-220 | 2毫米 | 0.2R |
探头有四个直立的金属销(探头)。 使四个探针与待测量的绝缘体上的金属箔或金属电镀表面接触。向外部两个探头施加恒定电流(I)并测量电压(V)。与探针接触的金属箔或金属镀层的厚度(T)可以在某些条件下通过下式计算。 T = K×I÷V 这里,K是常数 ,因此如果测量两个内部探头之间的电压,可以测量金属箔或金属镀层的厚度。 |
型号(车身) | RST-231型 |
测量原理 | 4探针电阻型 |
测量范围 | 2至24μm,10至120μm |
频道数量 | 40个频道 |
数据容量 | 100,000个数据 |
显示 | 通过PC监视器屏幕 |
统计处理 | 值,小值,平均值,标准偏差,直方图,上限/下限设置 |
电源 | AC 100至240 V 50/60 Hz,10 VA(主机) |
维 | 280(宽)x 230(长)x 88(高)(正文) |
附件 | 4探针探针KD-110 标准板TCU-145 |
注意:规格如有更改,恕不另行通知。
日本电测膜厚计RST-231 日本电测膜厚计RST-231
TQ-50NG16
TQ-100NG16
TQ-150NG16
TQ-200NG16
TQ-300NG16
TQ-500NG16
TQ-1KNG16
TQ-1.5KNG16
TQ-2KNG16
TQ-3KNG16
TQ-4KNG16
TQ-5KNG16
TQ-7KNG16
TQ-10KNG16
TQR-200MNA32
TQR-500MNA32
TQR-1NA32
TQR-2NA32
TQR-3NA32
TQR-5NA32
TQT-2NB57M2G4
TQT-5NB57M2G4
TQT-10NB57M2G4
TQT-20NB57M2G4
TQT-30NB57M2G4
TQT-50NB57M2G4
TQT-70NB57M2G4
LC-10KNE450
LC-20KNE450
LT-5KNG56
LT-10KNG56
LT-20KN
PG-200MPG7
PG-300MPG7
PG-400MPG7