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日本电测膜厚计EX-731

更新时间:2019-04-26

简要描述:

LT-5KNG56
LT-10KNG56
LT-20KN
PG-200MPG7
PG-300MPG7
PG-400MPG7
日本电测膜厚计EX-731

型号:厂商性质:经销商浏览量:143
产地类别进口

X射线荧光膜厚度计EX-731

X射线荧光膜厚度计EX-731

以极高的精度测量极小部件,具有出色的可操作性
也可以测量大尺寸底座

·通过使用双重滤波器实现精度,可在条件下进行测量
·通过将鼠标对准测量位置实现快速对准· 
即使在多任务功能测量期间也可以进行其他处理,包括报告创建
·小准直器可以测量直径为0.05 mm的极小部件

在数字目录中查看

X射线荧光膜厚度计EX-731的特点

双滤镜采用

除数字滤波器外,机械滤波器(双滤波器)可用于在条件下进行测量,以便始终获得精度。

自动测量阶段

我们通过将鼠标放在测量位置来实现快速对齐。另外,如果登记测量位置,也可以进行连续自动测量。通过通道链接对应各种模式的坐标校正。标准板校准也可以自动测量。

完整的报告准备功能

通过采用MS-Windows软件,您可以轻松捕获测量屏幕并具有完整的报告创建功能。即使使用测量,多任务也可以进行其他处理,包括创建报告。

5种内脏器官

准直器的小直径为0.1φmm,可以测量极小的部件。标准·0.1,0.2,0.5,1.0,2.0 
另外,有两种特殊规格可供选择。
· 
0.05,0.1,0.2,0.3,0.5·0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5

自诊断功能和X射线管维护功能

自诊断功能可以快速解决设备故障。此外,还增加了X射线管使用时间和耐久时间显示功能,以支持维护安全。

薄膜厚度测量期间的光谱显示

使用多通道进行频谱分析高速处理可实现对象的简单操作和频谱显示。(处理速度约2-3秒)

显示测量单位监视器图像

将X射线照射单元装载在Windows屏幕上并显示X射线照射单元。准直器使得可以改变放大率。

目视显示待测物体的镀层附着力分布

三维图形显示使得可以一目了然地理解被测物体的镀层厚度分布。

 

 

关于Be window X射线管(选项)的性能提高(高精度)

   

            我们为X射线荧光膜厚度计EX-731准备了Be X射线管(可选)
            。通过使用该选项,
            可以在Cr测量和Ni测量中大大提高重复测量的精度。

       

            关于绩效改进的说明

     

            高能量(高原子序数)Sn 
         的测量与以前相同,但是在测量低能量(低原子序数)Cr和Ni的情况下,取决于膜厚度,Cr超过3倍,Ni超过2倍或更多重复
         倒钩精度有所改善。如果在两个层测量表面层的Au是略中间
         层的Ni已经由约20%提高接收贡献的精度。荧光X射线法的厚度计
         在生成其中获得的荧光X射线强度的过程中的情况下,重复测定精度(标准偏差)
         是由于统计波动确定的,施加成为窗口的X射线管(可选)
         由此可知,与以往的标准机相比,在Cr的情况下,获得了约9倍以上的荧光X射线强度
         。因此,可以在短时间内以与传统相同的精度进行测量。
         请考虑使用此Be窗口X射线管。

 

测量屏幕

测量屏幕

自动测量位置检查

自动测量位置检查

直方图

直方图

3D图形

3D图形

X射线荧光膜厚度计EX-731的规格

类型手动阶段自动舞台
测量头尺寸(mm)170 x 110300 x 280
移动量X(mm)7080
Y(mm)7060
Z(mm)80(多测量150个物体)50
测量物体高度()80(选项150)50
尺寸(mm)600(宽)x 465(深)x 730(高)
重量(kg)7985
样品负荷(kg)32
计算机尺寸(mm)主体182(W)×383(D)×372(H)
/监视器412(W)×415(D)×432(H)
重量(kg)Body 6.8 / Monitor 2.8
打印机重量(kg)3.4
电源AC 100 V±10 V.

注意:规格如有更改,恕不另行通知。

X射线源油浸式紧凑型微焦X射线管
靶:钨
管电压50kV 
管电流可变
照射方法顶部垂直照射方法
探测器比例计数器
准直器五种类型(自动切换型)
0.1,0.2,0.5,1.0,2.0φmm 
(可选):0.05,0.1,0.2,0.3,0.5 
,φ  
:0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5φ
样品观察CCD彩色摄像机
计算机PC / AT兼容
17英寸彩色显示器
打印机喷墨打印机
测量目标原子序数22(Ti)至82(Pb)
原子序数21或更小可通过吸收法测量
过滤器两种类型(Co,Ni)自动切换
可衡量的范围原子No.22-24:0.02至约20μm 
原子序数25至40:0.01至约30μm 
原子序号41至51:0.02至约70μm 
原子序号52至82:0.05至约10μm
校准曲线校准曲线自动创建功能
多点校准曲线
校正功能基础修正
应用单层电镀测量双层
电镀测量
三层电镀测量
合金膜厚度成分比同时测量
化学镀镍测量
测量功能自动测量
输出格式设定
光谱测量
2点距离测量
自动表功能测量位置指定(XYZ)
相同模式重复功能
原点
位置校正功能测量位置检查功能
自动校准
数据处理功能统计显示:平均值,标准差,值,小值,范围,Cp,Cpk 
直方图
配置文件显示
测量数据3D显示xR 
控制图
安全功能X射线电源键开关
故障安全功能
其他功能舞台坐标显示
密码功能
维护

TQ-50NG16

TQ-100NG16

TQ-150NG16

TQ-200NG16

TQ-300NG16

TQ-500NG16

TQ-1KNG16

TQ-1.5KNG16

TQ-2KNG16

TQ-3KNG16

TQ-4KNG16

TQ-5KNG16

TQ-7KNG16

TQ-10KNG16

TQR-200MNA32

TQR-500MNA32

TQR-1NA32

TQR-2NA32

TQR-3NA32

TQR-5NA32

TQT-2NB57M2G4

TQT-5NB57M2G4

TQT-10NB57M2G4

TQT-20NB57M2G4

TQT-30NB57M2G4

TQT-50NB57M2G4

TQT-70NB57M2G4

LC-10KNE450

LC-20KNE450

LT-5KNG56

LT-10KNG56

LT-20KN

PG-200MPG7

PG-300MPG7

PG-400MPG7

日本电测膜厚计EX-731  日本电测膜厚计EX-731

 

 

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