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日本电测膜厚计DS-110

更新时间:2019-04-28

简要描述:

通过晶体振荡
,曲面/球面对也可以实现高精度和短测量时间

·测量值显示为数字型,易于读取
·开启时测量同时开始,测量时间小于1秒
·高稳定性(±1%)高精度
· 石英振荡法无损检测
·可直接读取因为转换是不必要的
日本电测膜厚计DS-110

型号:厂商性质:经销商浏览量:197
产地类别进口

涡流膜厚度计DS-110

涡流膜厚度计DS-110

通过晶体振荡
,曲面/球面对也可以实现高精度和短测量时间

·测量值显示为数字型,易于读取
·开启时测量同时开始,测量时间小于1秒
·高稳定性(±1%)高精度
· 石英振荡法无损检测
·可直接读取因为转换是不必要的

在数字目录中查看

涡流膜厚度计DS-110的特点

易于阅读的数字类型

测量值显示是数字的,易于阅读。

可以立即进行测量

可以在打开开关的同时进行测量。测量时间也在1秒内。

高稳定性(±1%)高精度

通过晶体振荡方法实现高稳定性(±1%)的高精度。

可以检查

由于它是非破坏性的,因此可以进行检查。

无需转换

无需直接阅读和转换。

支持各种测量

它可以测量金属上的薄膜,电镀,涂漆,树脂等。(例如:铝上的氧化膜,铁上的锌电镀等)

多可保存1000个数据

可以使用一条检查线存储1000个数据。

非金属上金属薄膜的测量

它可以测量非金属上的金属薄膜(例如塑料上的镀层)。

标准可以多测量70种薄膜厚度

通过切换开关,您可以测量多达四种类型的薄膜厚度。此外,通过更换制造商的检查线,可以进行70多种膜厚测量。

在曲面,球体或管道内也可以进行测量

也可以测量弯曲或球形体。另外,也可以测量管道等的内表面(φ12.7mm或更大)。

打印输出功能

您可以打印出测量数据和统计处理值。

测量原理

测量原理 当具有高频电流的探针(探针线圈)靠近金属时,在金属表面中产生涡电流。该涡电流受高频磁场的强度和频率,金属的导电性,厚度和形状等的影响,并且穿透深度和其尺寸不同。
并且,由于涡电流流动以抵消探头的高频磁场,因此探头的高频电阻值发生变化。放大该高频电阻值的变化,进行曲线校正,并将其显示为数字值。因此,膜厚度值可以直接读作数字。通过微计算机计算执行曲线校正。由于这种高精度,高稳定性。

涡流膜厚度计DS-110的规格

电源使用AC适配器AC100V至240V
重量3.4千克
330(W)×90(D)×180(H)mm

注意:规格如有更改,恕不另行通知。

涡流薄膜厚度计DS-110的探头规格


 1.探头的效果范围使用精密探头时
Fai5mm 
Fai3mm
2.探针线长度900毫米
3.根据导轨类型在曲面上测量
4.探针类型MP型...用于平凸凹面(标准)
SM型...用于平凸凹面(非常薄)
RP型...凹面,
SR型用于管道内表面...用于
上述小直径管内表面的探针C和D有4种类型。
5.探针指南#180:用于平面测量
#120 
:用于φ25-60mm 凸面测量#90:用于φ30mm或更小的凸面测量

日本电测膜厚计DS-110 日本电测膜厚计DS-110

 

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