更新时间:2026-08-24
Nikon尼康MH-15M数显测微头 高度计测头尼康(Nikon)MH-15M 属于 DIGIMICRO 系列中的超高精度小行程数显测微头/数字高度计测头
| 品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 进口 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 综合 |
Nikon尼康MH-15M数显测微头 高度计测头
尼康(Nikon)MH-15M 属于 DIGIMICRO 系列中的超高精度小行程数显测微头/数字高度计测头。
与 MF-1001(100mm 行程、3µm 精度)相比,MH-15M 专注于极小范围内的精度测量
主要用途与应用场景:
微小零件的超高精度测厚/测高: 用于对精度要求极严的薄膜、晶片、超薄金属片、精密垫片及微型电子元件进行厚度、高度差和段差测量。
实验室与计量(QA/QC): 作为工厂计量室或研发展示的基准级校核工具,用于校准标准件、针规及微型模具零件。
大型平台基准测量: 尺寸小巧,除了搭配专用台架外,还可以直接固定或磁吸于大型花岗岩平台上,以大平台底面为基准,对大型工件上的局部微小特征进行精密测量



