日本INTECS目视检查用卤素光源装置UIH-1H 抛光晶片雾度照明装置，用于目测

日本INTECS卤素灯光源装置UIH-1C 用于目视检查的超亮照明装置 将高强度的光照射到物体（* 1）时，会发生倾斜现象，并且可以轻松地从视觉上确认表面上的划痕和碎屑，内部的异物和气泡。 u003c/ su003e u003c/ su003e u003c/ su003e * 1：半导体晶片，掩模玻璃，硬盘，液晶面板，透镜等！

日本INTECS卤素光源装置卤素灯UIH-2D 超高輝度検査用照明装置（ＵＩＨ－２Ｄ型） 一般的に半導体ウエハーやマスクガラス等の目視検査で、傷やごみ、内部異物や気泡を 発見する為には熟練を要します。これらの検査を容易に行うために開発した装置です。 対象物（※１）に高輝度の光を照射することにより、チンダル現象を発生させて傷やゴミ、 埃の付着、内部の異物、気泡等を確認することが出来ます。

UIH-3D卤素灯光源装置日本INTECS 一种用于无损测量半导体晶片横截面形状尺寸的设备。您可以测量晶圆边缘的尺寸，角度和半径