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  • 日本INTECS目视检查用卤素光源装置UIH-1H
    日本INTECS目视检查用卤素光源装置UIH-1H

    日本INTECS目视检查用卤素光源装置UIH-1H 抛光晶片雾度照明装置,用于目测

    时间:2020-10-20型号:浏览量:55
  • 日本INTECS卤素灯光源装置UIH-1C
    日本INTECS卤素灯光源装置UIH-1C

    日本INTECS卤素灯光源装置UIH-1C 用于目视检查的超亮照明装置 将高强度的光照射到物体(*1)时,会发生倾斜现象,并且可以轻松地从视觉上确认表面上的划痕和碎屑,内部的异物和气泡。 u003c/su003eu003c/su003eu003c/su003e *1:半导体晶片,掩模玻璃,硬盘,液晶面板,透镜等!

    时间:2020-10-20型号:浏览量:71
  • 日本INTECS卤素光源装置卤素灯UIH-2D
    日本INTECS卤素光源装置卤素灯UIH-2D

    日本INTECS卤素光源装置卤素灯UIH-2D 超高輝度検査用照明装置(UIH-2D型) 一般的に半導体ウエハーやマスクガラス等の目視検査で、傷やごみ、内部異物や気泡を 発見する為には熟練を要します。これらの検査を容易に行うために開発した装置です。 対象物(※1)に高輝度の光を照射することにより、チンダル現象を発生させて傷やゴミ、 埃の付着、内部の異物、気泡等を確認することが出来ます。

    时间:2020-10-20型号:浏览量:89
  • UIH-3D卤素灯光源装置日本INTECS
    UIH-3D卤素灯光源装置日本INTECS

    UIH-3D卤素灯光源装置日本INTECS 一种用于无损测量半导体晶片横截面形状尺寸的设备。您可以测量晶圆边缘的尺寸,角度和半径

    时间:2020-10-20型号:浏览量:84
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