日本三丰378-087固定倍率观察用相机卡口

日本三丰378-087固定倍率观察用相机卡口

 固定倍率观察用相机卡口

在激光振荡器配备规格的激光接口卡口上安装 即为双相机端口规格，可以使用两台相机观察 同一部位。 适用于2/3型以下相机(C-Mount规格)。 

 货号 378-087 重量：180g

凭借长动作距离设计的物镜，实现优异的操作性。
与定位器、探针台等组合。
通过与激光加工装置组合，还可支持不良分析→部分修正无缝衔接的系统。
此外，还提供支持隔着玻璃的、真空内的外观检查的系统

 紧凑、轻巧的相机观察显微镜
适用于金属、树脂、印刷表面、微小运动物体等各种观察对象。
·适用于使用YAG激光(近红外、可见、近紫外、紫外)的微细加工※ ※不保证激光振荡器配备系统的综合性能和安全性。
半导体电路的切割、修整、修正、打标、薄膜(绝缘膜)的去除和加工、液晶彩色滤光片等的修复(修正缺陷)等。
·适用于红外光学系统※
硅类的内部观察、红外光谱特征分析等。※另需红外光源和红外摄像机等。
·反射照明光学系统标配带孔径光阑远心照明
需要均匀照明的图像处理。可用于尺寸测量、形状检查、定位等。
·VMU-LB和VMU-L4B强化了显微镜主体的刚性和综合性能(与以往产品相比)
·除标准规格外，还可按照需求设计制作双相机、双倍率(低倍率、高倍率)等产品

 1：使用物镜M Plan Apo 1×时建议搭配使用偏光单元(No.378-710或378-715)。
注)在VMU-LB、L4B上安装YAG激光振荡器使用时， ·请注意激光输入值和能量密度等。否则可能会导致光学系统受损。
·请确认激光振荡器的重量。在高速、高加减速装置上安装时请进行咨询。

  适用于1/2型以下的C-Mount相机。
聚焦单元B(378-706)请在需要大限度缩小安装位置与VMU主体的间隔时使用。
搭配使用手动转塔(378-707)时，请将转塔安装在VMU主体的正面。安装方法请参照P.8。
不可与聚焦单元B(378-706)一起使用。
安装方法请参照P.8。
 使用激光接口安装C-Mount相机时使用。
请在2/3型以下的相机中使用。
本公司不提供，敬请咨询。
安装时可能另需适配器，敬请咨询。

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Mitutoyo三丰显微镜单元

Mitutoyo三丰物镜 紫外、近紫外、可视、近红外

Mitutoyo三丰显微镜单元

日本三丰物镜(紫外、近紫外、可视、近红外)

用于半导体、电子、液晶相关等产品的生产

品质管理系统、实验研究装置使用的光学系统

外观检查系统的嵌入式光学单元

微生物等运动物体的观察　等

可安装数码相机，通过外部显示器进行观察和拍摄。

可实现横向水平、上下颠倒等高自由度的固定方法。

与简易支架一起使用，还可作为紧凑型显微镜使用。

　★金属、树脂、印刷面等表面观察拍摄

　★微量流体分析用光学系统

　★以观察和分析细胞、微生物等为目的的光学系统

M Plan Apo NIR系列等支持红外区的物镜组合，可在红外线下实

现可见光下做不到的非破坏性检查。

　★液晶薄膜、硅基板等的厚度测量

　★MEMS内部的非破坏评价、三维安装评价

　★半导体封装(IC)的内部观察、晶圆键合空洞评价传感器

　★红外分光特性分析

紧凑、轻巧的相机观察显微镜

　适用于金属、树脂、印刷表面、微小运动物体等各种观察对象。

·适用于使用YAG激光(近红外、可见、近紫外、紫外)的微细加工※ ※不保证激光振荡器配备系统的综合性能和安全性。

　半导体电路的切割、修整、修正、打标、薄膜(绝缘膜)的去除和加工、液晶彩色滤光片等的修复(修正缺陷)等。

·适用于红外光学系统※

　硅类的内部观察、红外光谱特征分析等。※另需红外光源和红外摄像机等。

·反射照明光学系统标配带孔径光阑远心照明

　需要均匀照明的图像处理。可用于尺寸测量、形状检查、定位等。

·VMU-LB和VMU-L4B强化了显微镜主体的刚性和综合性能(与以往产品相比)

·除标准规格外，还可按照需求设计制作双相机、双倍率(低倍率、高倍率)等产品