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日本Mitutoyo三丰378-005干涉物镜

更新时间:2025-06-27

简要描述:

日本Mitutoyo三丰378-005干涉物镜
白色干渉測定用対物レンズ WLI Plan Apo

型号:WLI Plan Apo 5x厂商性质:经销商浏览量:47
品牌MITUTOYO/日本三丰产地类别进口
应用领域环保,生物产业,电子/电池,航空航天

日本Mitutoyo三丰378-005干涉物镜

Mitutoyo三丰白光干涉物镜 WLI Plan Apo 5x

日本Mitutoyo三丰378-005干涉物镜替代尼康干涉物镜

数值孔径 (NA) 数值孔径 (NA) 是决定物镜分辨率、焦深、图像亮度等的重要参数。数值孔径 (NA) 用以下公式表示,该值越大,获得的图像分辨率越高,焦深越浅。N.A.=n・Sinθ n 是物镜与样品之间介质的折射率,空气中 n=1.0。θ 是通过物镜最外层的光线与透镜中心(光轴)之间的夹角


场数(F.N. = Field Number)与实际视野 (1)显微镜可观察到的标本范围(直径) ● 通过目镜观察时(贝雷克公式) 可观察到的标本表面面积由目镜视场光阑的直径决定,以毫米为单位表示的这个尺寸称为场数。实际视野是通过物镜实际放大观察到的物体表面的范围。实际视野可以使用以下公式计算

焦深 (D.F. = Depth of Focus) 在显微镜下,即使焦平面在成像聚焦平面的前方或后方移动,仍能清晰地看到图像的范围。数值孔径越大,焦深越浅。反之,焦深越深(数值孔径越小),图像的聚焦范围越广,在同一焦点处甚至可以看到微小的差异。由于人眼的调节能力存在个体差异,因此人们感知到的焦深也存在个体差异。目前,通常使用与实验结果非常接近的贝雷克公式。立体显微镜等低倍镜头具有较深的焦深,这与相机术语景深同义



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