更新时间:2024-07-30
Mitutoyo三丰M Plan Apo 1×物镜378-800-3明视场用物镜M Plan Apo /M Plan Apo HRVMU WIDE VMU FS70 MF-U Hyper MF-U
品牌 | MITUTOYO/日本三丰 | 货号 | 378-800-3 |
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规格 | 1 | 供货周期 | 两周 |
主要用途 | 显微镜 | 应用领域 | 环保,电子/电池 |
Mitutoyo三丰M Plan Apo 1×物镜378-800-3
明视场用物镜
M Plan Apo /
M Plan Apo HR
VMU WIDE VMU FS70 MF-U Hyper MF-U
Mitutoyo三丰物镜 紫外、近紫外、可视、近红外
Mitutoyo三丰显微镜单元
日本三丰物镜(紫外、近紫外、可视、近红外)
用于半导体、电子、液晶相关等产品的生产
品质管理系统、实验研究装置使用的光学系统
外观检查系统的嵌入式光学单元
微生物等运动物体的观察 等
可安装数码相机,通过外部显示器进行观察和拍摄。
可实现横向水平、上下颠倒等高自由度的固定方法。
与简易支架一起使用,还可作为紧凑型显微镜使用。
★金属、树脂、印刷面等表面观察拍摄
★微量流体分析用光学系统
★以观察和分析细胞、微生物等为目的的光学系统
M Plan Apo NIR系列等支持红外区的物镜组合,可在红外线下实
现可见光下做不到的非破坏性检查。
★液晶薄膜、硅基板等的厚度测量
★MEMS内部的非破坏评价、三维安装评价
★半导体封装(IC)的内部观察、晶圆键合空洞评价传感器
★红外分光特性分析
·无限远校正
·明视场观察用
·长工作距离
·平场复消色差规格
上述规格栏中的分辨力和物镜单体焦深是根据基准波长(λ=0.55μm)计算得出的值。
※1 观察反射率较低的检测对象时,建议搭配使用与所用显微镜相对应的偏光装置。
※2 观察反射率较低的检测对象时,建议搭配使用M Plan Apo 2 × 1/4波长板(No.02ALN370)和偏光装置。注)工作距离会缩短4mm。
※3 安装物镜单体时的规格(根据显微镜的不同,有可能不符合标注规格)。
在垂直反射照明下单独使用时,请使物镜的入射照明光通量达到16.8mm(物镜瞳径)以上
紧凑、轻巧的相机观察显微镜
适用于金属、树脂、印刷表面、微小运动物体等各种观察对象。
·适用于使用YAG激光(近红外、可见、近紫外、紫外)的微细加工※ ※不保证激光振荡器配备系统的综合性能和安全性。
半导体电路的切割、修整、修正、打标、薄膜(绝缘膜)的去除和加工、液晶彩色滤光片等的修复(修正缺陷)等。
·适用于红外光学系统※
硅类的内部观察、红外光谱特征分析等。※另需红外光源和红外摄像机等。
·反射照明光学系统标配带孔径光阑远心照明
需要均匀照明的图像处理。可用于尺寸测量、形状检查、定位等。
·VMU-LB和VMU-L4B强化了显微镜主体的刚性和综合性能(与以往产品相比)
·除标准规格外,还可按照需求设计制作双相机、双倍率(低倍率、高倍率)等产品