378-866大视场目镜WF10×/24

378-866大视场目镜WF10×/24

 大视场目镜
WF / UWF

 MF Hyper MF
分划板
MF-U Hyper MF-U FS70

 大视场型目镜WF
·超大视场10×(视场数30)UWF
·采用外部聚焦式光学系统···可根据用途安装各种分划板
仅UWF为内部聚焦式，不可安装分划板

 货号型号倍率视场数屈光度调节高眼点分划板安装
重量
(g)
378-851 超大视场目镜 UWF10×/30 10× 30 －8D～＋4D ○ 不可250
378-866 大视场目镜 WF10×/24 10× 24 －10D～＋5D ○ 可150
378-857 大视场目镜 WF15×/16 15× 16 －8D～＋5D － 可40
378-858 大视场目镜 WF20×/12 20× 12 －8D～＋5D － 可55
上述镜头为两件套

 ·可以插入目镜(中间成像位置)，简单地测量尺寸···适用于No.378-866、378-857、378-858
·分划板线宽10μm···仅No.516576为7μm
·外径ø25mm、厚度1mm

 货号516848 516576 516578 516577 516849 516850
规 格90°实线90°、60°虚线
带十字线同心圆
(P＝ø1.2/ø1.2～18mm)
带十字线刻度线
(P＝0.1/20mm)
刻度线
(P＝0.1/10mm)
刻度线
(P＝0.05/5mm)

NA=Numerical Aperture的略语
数值孔径NA是决定物镜分辨力、焦深、图像亮度的重要数值。
数值孔径NA通过下列公式来表示，其数值越大，就越能得到高分辨力、焦深浅的图像
n是物镜顶端与工件之间的媒介具有的屈光率，在空气中n=1.0。是通过物镜外侧的光线与镜头中心（光轴）之间形成的角度
R=Resolving power的略语
能够将离得很近的点或线区分开来的小间隔叫做分辨力，表示解像度的极限。
分辨力(R)由数值孔径NA和波长(λ)来决定
W.D.=Working Distance的略语
是指对准焦点时从试样上表面到物镜前端的距离
齐焦距离
是指对准焦点时，从试样上表面到物镜安装位置的距离

无限远校正光学系统
把使用物镜和成像镜头成像的光学系统叫做无限远校正光学系统

有限远校正光学系统
单独用物镜成像于有限的位置上的光学系统叫做有限远校正光学系统
f=focal length的略语

 Z 轴电动型
■电动型测量显微镜MF-U系列
BF
(明视场)
型号MF-UJ2017D MF-UJ3017D MF-UJ4020D
货号 176-894*1 176-895*1 176-896*1
BD
(明视场/暗视场)
型号MF-UK2017D MF-UK3017D MF-UK4020D
货号 176-897*1 176-898*1 176-899*1
目镜 (可选) 带屈光度调节10X (标准选件) (视场数：24)，15X，20X
物镜(可选)
明视场 (BF) M Plan Apo, M Plan Apo SL, G Plan Apo系列
明视场/暗视场 (BD) BD Plan Apo, BD Plan Apo SL系列
影像AF *2 ✔
工作台
测量范围200×170mm 300×170mm 400×200mm
快速释放设置X Y轴
归零钮X Y轴
Z 轴
大工件高度220mm
进给方式电动 (大测量速度: 20mm/s)
测量精度 *3 (X和Y轴无负载) (2.2 + 0.02L)μm L: 测量长度 (mm)
数显计数器
分辨力1/0.5/0.1μm可切换
显示轴X, Y和Z
功能调零，方向转换
*1 ： 为区分交流电源电缆，在货号后加上以下后缀: A 适于 UL/CSA, D 适于 CEE, DC 适于 CCC, E 适于 BS, K 适于 KC, C 和无后缀适于
PSE。
*2 ： 另外需要Vision Unit 和图像AF 电缆。
*3 ： 测量方法符合JIS B7153。
注：其它规格，参见J-7 页。
• 改进了MF-U 系列电动型的可用性。新推出
的MF-UJ / UK 采用Z 轴电动方式，可以更轻
松地调整焦点并对重型工件进行测量。
• Vision Unit (选件) 能使影像自动对焦

 378-866大视场目镜WF10×/24