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物镜M Plan Apo NIR B 20× 378-867-5

更新时间:2021-02-04

简要描述:

物镜M Plan Apo NIR B 20× 378-867-5
使用的波长如果在1100nm以上,玻璃色散的变化和折射率等的测量可能会出现误差,略微偏离可见光的聚焦位置。

型号:日本三丰厂商性质:经销商浏览量:115
品牌其他品牌货号M Plan Apo NIR B 20×
规格378-867-5供货周期现货
主要用途显微镜应用领域环保,化工,生物产业,电子

物镜M Plan Apo NIR B 20× 378-867-5

 明视场用近红外区校正 物镜
M Plan Apo NIR B
VMU FS70

·无限远校正 ·明视场观察及激光加工用
·长工作距离 ·平场复消色差规格
· 适用于YAG激光的基波、二次谐波的激光高透射率型产
品。对可见区420nm到近红外区1064nm进行了校正设计。
· 在维持NIR系列20×、50×的NA的基础上,实现了25.5mm
的超长工作距离,大幅提高了可操作性 

 品 名货号
数值孔径
NA
工作距离
WD(mm)
焦距
f(mm)
分辨力
R(μm)
物镜单体的焦深
±D.F.(μm)
实际视场(mm) 重量
ø24目镜 1/2型相机 (纵×横) (g)
M Plan Apo NIR B
M Plan Apo NIR B 20× 378-867-5 0.40 25.5 10 0.7 1.7 1.2 0.24×0.32 350
M Plan Apo NIR B 50× 378-868-5 0.42 25.5 4 0.7 1.6 0.48 0.10×0.13 375
上述规格栏中的分辨力和物镜单体焦深是根据基准波长(λ=0.55μm)计算得出的值。
注)使用的波长如果在1100nm以上,玻璃色散的变化和折射率等的测量可能会出现误差,略微偏离可见光的聚焦位置

 远心光学系统
在图像一侧焦点位置上设置光阑,则主光线会与光轴平行。
在利用了这一原理的光学系统中,即使将焦点向光轴方向移
动,只是图像会变得模糊,而图像中心的大小不会改变。
测量投影仪和测量显微镜则是用通过在聚光镜头的焦点位置
放置光源来取代光阑,用平行光线照明,可以取得同样的效
果。(参照下图)

 物镜M Plan Apo NIR B 20× 378-867-5

 透射照明:用透射光观察测量物的照明方法。特别适用于
放大投影和测量轮廓部位的时候。
 垂直反射照明:让光垂直照射在测量物表面的照明方法。
用于观测和测量表面形状。
(同时使用半透镜或内置半透镜式投影镜头)
 斜向反射照明:使光斜向照射测量物表面的照明方法。图
像的对比度得到强调,能够更加立体而清晰地观察。但是
需要注意的是在测量尺寸时容易产生偏差。
(与斜向反射镜合用,PJ-H30系统主体标准配置)

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