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M Plan ApoNIR 100× 378-826-15

更新时间:2021-02-04

简要描述:

M Plan ApoNIR 100× 378-826-15
上述规格栏中的分辨力和物镜单体焦深是根据基准波长(λ=0.55μm)计算得出的值

型号:Mitutoyo三丰物镜厂商性质:经销商浏览量:249
品牌其他品牌货号378-826-15
规格M Plan ApoNIR 100×供货周期现货
主要用途显微镜应用领域环保,化工,生物产业,电子

 

M Plan ApoNIR 100× 378-826-15

 上述规格栏中的分辨力和物镜单体焦深是根据基准波长(λ=0.55μm)计算得出的值。
注)使用的波长如果在1100nm以上,玻璃色散的变化和折射率等的测量可能会出现误差,略微偏离可见光的聚焦位置。 Mitutoyo三丰物镜M Plan ApoNIR 100× 378-826-15

 M Plan Apo NIR
M Plan Apo NIR 5× 378-822-5 0.14 37.5 40 2.0 14.0 4.8 0.96×1.28 220
M Plan Apo NIR 10× 378-823-5 0.26 30.5 20 1.1 4.1 2.4 0.48×0.64 250
M Plan ApoNIR 20× 378-824-5 0.40 20.0 10 0.7 1.7 1.2 0.24×0.32 300
M Plan ApoNIR 50× 378-825-5 0.42 17.0 4 0.7 1.6 0.48 0.10×0.13 315
M Plan ApoNIR 100× 378-826-15 0.50 12.0 2 0.6 1.1 0.24 0.05×0.06 335

 明视场用近红外区校正 物镜
M Plan Apo NIR /
M Plan Apo NIR HR

 移动控制杆,可以进行准确有效的垂直度和
直线度测量。
• 高精度垂直度和直线度测量。通过使用内置
仪器垂直度调整机制,预先设置为主方形量
规来测量。
• 滑力: 大约 2 - 5N Mitutoyo三丰物镜

 ·无限远校正 ·明视场观察及激光加工用
·长工作距离 ·平场复消色差规格
· 对可见区(常用观察波长区)到近红外区(波长~1800nm)进行
了校正设计。
· NIR HR:高分辨力规格···分辨力提高 约50%以上(与标准型相比)

 • 高精度矩形直角尺是用于校验诸如机床三坐
标测量机、机床、形状测量机、半导体相关
设备等设备中的动件的运动直线度和与轴垂
直度的量规。
• 提供了四个精磨处理基准面

光滑的铬合金磨光表面上刻有清晰的刻度。
• 经过回火处理的不锈钢

• 公制型塞尺为斜片。
• 各叶片上都标有厚度。
• 需要时,可将尺片拆下使用

通过数据输出功能易于获得统计数据。
• 可安装在高度尺上使用。高度尺支架
(950750 公制型)
• 可设置预调值。
• 可移动尺片。

 

 作为机器,模具,夹具等的角度测量、装配、
加工的基准,使用的精密角度测量设备。
• 可安装在高度尺上使用。
• 分度值: 5'

 采用高精度纵向、横向水平仪,可对各种平
面进行检测或调水平

 偏摆仪与杠杆指示表(选件) 一起使用,可实
现圆柱工件的同心度校准。
• 带有指示表夹钳。
(固定杆轴套外径

 M Plan ApoNIR 100× 378-826-15

 M Plan ApoNIR 100× 378-826-15

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