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422-230-30日本三丰Mitutoyo千分尺

更新时间:2024-08-04

简要描述:

422-230-30日本三丰Mitutoyo千分尺
特点:
1.测砧和测微螺杆的端面为薄片型,可用于测量花键轴、 键槽等不易测量位置的凹槽尺寸。
2.可用硬质合金测量面。
3.直进式测微螺杆型。
4.带有恒定测力的装置。

型号:厂商性质:经销商浏览量:385
品牌其他品牌产地类别进口
应用领域综合

422-230-30日本三丰Mitutoyo千分尺

422-230-30日本三丰Mitutoyo千分尺

422-230-30日本三丰Mitutoyo千分尺
特点:
1.测砧和测微螺杆的端面为薄片型,可用于测量花键轴、 键槽等不易测量位置的凹槽尺寸。
2.可用硬质合金测量面。
3.直进式测微螺杆型。
4.带有恒定测力的装置。

日本三丰Mitutoyo薄片型千分尺422-230-30
薄片型千分尺
422,122  系列 — 直进式测微螺杆型
BLM-MX/QM · BLM
特点:

1.测砧和测微螺杆的端面为薄片型,可用于测量花键轴、 键槽等不易测量位置的凹槽尺寸。
2.可用硬质合金测量面。
3.直进式测微螺杆型。
4.带有恒定测力的装置。
日本三丰Mitutoyo薄片型千分尺422-230-30

规格
精度: ±( 2 +zui大测量长度/75 ) µm ( 小数圆整 )
平行度 :  测量范围小于 75mm 型为 3μm
测量范围大于 75mm 型为 ( 3+zui大测量长度/100 ) μm,( 小数圆整 )
类型与尺寸

 

422-230-30日本三丰Mitutoyo千分尺

422-230-30日本三丰Mitutoyo千分尺

422-230-30日本三丰Mitutoyo千分尺
特点:
1.测砧和测微螺杆的端面为薄片型,可用于测量花键轴、 键槽等不易测量位置的凹槽尺寸。
2.可用硬质合金测量面。
3.直进式测微螺杆型。
4.带有恒定测力的装置。

日本三丰Mitutoyo薄片型千分尺422-230-30
薄片型千分尺
422,122  系列 — 直进式测微螺杆型
BLM-MX/QM · BLM
特点:

1.测砧和测微螺杆的端面为薄片型,可用于测量花键轴、 键槽等不易测量位置的凹槽尺寸。
2.可用硬质合金测量面。
3.直进式测微螺杆型。
4.带有恒定测力的装置。
日本三丰Mitutoyo薄片型千分尺422-230-30

规格
精度: ±( 2 +zui大测量长度/75 ) µm ( 小数圆整 )
平行度 :  测量范围小于 75mm 型为 3μm
测量范围大于 75mm 型为 ( 3+zui大测量长度/100 ) μm,( 小数圆整 )
类型与尺寸


422  系列电池
SR44  ( 1  个 ) , 938882,  用于初始操作检查 ( 标准附件 )

选件
连接电缆
1m: 05CZA662
2m: 05CZA663
USB Input Tool
USB-ITN-B  ( 2m ) : 06ADV380B
连接电缆
1m: 937387
2m: 965013
USB Input Tool
USB-ITN-E  ( 2m ) : 06ADV380E
U-WAVE-T 连接电缆
02AZD790E  ( 160mm )
02AZE140E:  脚踏开关用
Quickmike
Quickmike  的快速进给速度可达 10mm/rev
可快速测量不同形状的工件。

 

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